Analysis of the Multiraters Agreement with Log-Linear Models

Authors : Gokcen ALTUN

Pages : 107-110

Doi:10.30516/bilgesci.950797

View : 9 | Download : 7

Publication Date : 2021-09-30

Article Type : Research Paper

Abstract :Bu çalışmada, peri-implant kemik defektlerinin teşhisinin doğruluğunu değerlendirmek için 87 dijital panoramik görüntü üç değerlendirici tarafından sınıflandırılmıştır. Üç değerlendiriciler arasında kappa katsayısı 0.81 olarak elde edilmekte olup, bu da mükemmele yakın bir uyumu göstermektedir. Daha sonra verilere log-lineer anlaşma modeller uygulanmıştır. Model seçim kriterlerine göre en iyi model belirlenmiştir. En iyi modeli kullanarak uyum parametresi tahmin edilir. Üç değerlendiricinin aynı kararı vermesi, farklı bir karar vermesine göre 33 kat daha fazladır. Sonuçlar, uyum katsayılarının yalnızca değerlendiriciler arasındaki uyumun değerini gösterdiğini göstermektedir. Öte yandan, uyum modelleri, değerlendiriciler için bir model denklemi sağlar ve uyum ve ilişki parametreleri hesaplanarak daha ayrıntılı ve tutarlı sonuçlar elde edilebilir.
Keywords : uyum, kappa katsayısı, loh lineer model