INVESTIGATION OF SOME PHYSICAL PROPERTIES OF CdS FILMS AT DIFFERENT Mn INCORPORATION

Authors : Meryem Polat Gönüllü

Pages : 95-108

View : 11 | Download : 3

Publication Date : 2016-01-15

Article Type : Research Paper

Abstract :CdS ve farklı oranlarda insert ignore into journalissuearticles values(%10, %30); mangan insert ignore into journalissuearticles values(Mn); katılmış CdS:Mn filmleri uygulaması kolay ve ekonomik olmasıyla dikkat çeken ultrasonik kimyasal püskürtme insert ignore into journalissuearticles values(UKP); yöntemi ile 275 + 5 o C taban sıcaklığında üretilmiş ve 3 saat süreyle 500 ° C sıcaklıkta tavlama işlemine tabi tutulmuştur. Tüm filmlerin fotovoltaik güneş hücrelerinde kullanım potansiyelini araştırmak amacıyla optik, elektrik ve yüzey özellikleri incelenmiştir. Elde edilen filmlerin kalınlıkları ve bazı optik özelliklerinin belirlenmesi için Spektroskopik Elipsometri insert ignore into journalissuearticles values(SE); ve UV/VIS Spektroskopi teknikleri kullanılmıştır. Optik metot kullanılarak ham ve Mn katılmış CdS:Mn filmlerin optik bant aralıkları sırası ile 2.14 eV, 2,24eV ve 2.16 eV olarak belirlenmiştir. Elde edilen filmlerin kırılma indisi değerlerinin 1.73-1.80 aralığında değiştiği ve sönüm katsayısı değerlerinin ise 0.10 civarında sabit kaldığı saptanmıştır. Yüzey morfolojileri ve yüzey pürüzlülük değerleri atomik kuvvet mikroskobu kullanılarak incelenmiş ve dört uç metodu ile CdS ve CdS:Mn filmlerinin elektriksel özdirençlerinin 5.5×10 4 - 4.8×10 5 W cm aralığında değiştiği belirlenmiştir.
Keywords : Ultrasonik Kimyasal Püskürtme, CdS, Mn, Spektroskopik Elipsometre, Atomik Kuvvet Mikroskobu