Saha Geri Dönüş Oranını AR-GE Aşamasında İndikatör ile Tahmin Etme Yöntemi / Field Return Rate Estimation in R&D Phase with an Indicator

Authors : Tarkan TEKCAN, Gürmen KAHRAMANOĞLU, Mustafa YATIR, Barbaros KİRİŞKEN, Mustafa GÜNDÜZALP

Pages : 67-74

View : 10 | Download : 6

Publication Date : 2011-12-01

Article Type : Research Paper

Abstract :Günümüz tüketici elektroniği şirketleri servis maliyetlerini azaltmak ve iyi bir marka saygınlığı kazanmak için daha güvenilir ürünler üretmeye çalışmaktadırlar. Bununla birlikte, daha güvenilir ürünler üretmek, üretim maliyetlerinde artış anlamına gelmektedir. Güvenilirlik ve servis maliyetleri arasındaki denge ancak AR-GE aşamasında, üretim öncesinde, yapılacak doğru bir saha geri dönüş oranı tahmini ile ayarlanabilir. Saha geri dönüş oranı tahmini için birçok uluslararası standart ve hızlandırılmış ömür testleri kullanılmasına rağmen, çoğu zaman tahmin edilen geri dönüş oranı, gerçekleşen geri dönüş oranından farklı olmaktadır. Bunun sebebi, ürünün, sadece standlarda belirtilen veya hızlandırılmış ömür testlerinde kullanılan stres faktörlerinden arızalanmamasıdır. Bu da, saha geri dönüş oranı hesaplama yönteminde yeni bir parametrenin daha oluşturulması gerekliliğini ortaya çıkarmıştır. Bu makalede, saha geri dönüş oranını, AR-GE aşamasında, bir indikatör yardımı ile tahmin etme yöntemi anlatılmıştır. İndikatör fonksiyonu, malzeme seviyesindeki testlerden, ürün seviyesindeki testlerden ve yeni bir parametre olan olgunluk seviyesinden elde edilen 3 hata oranından oluşmaktadır. Bu tahminle birlikte, şirketler ürünlerinin güvenilirliğini iyileştirebilir ve muhtemel servis maliyetlerini azaltabilirler
Keywords : Saha Geri Dönüş Oranı Tahmini, Parça Sayımı Güvenilirlik Tahmini, Hızlandırılmış Ömür Testi, Exponensiyel Dağılım Hata Oranı, Weibull Dağılım Hata Oranı, Hata Yapma Zamanı, Olgunluk Seviyesi, Field Return Rate Estimation, Parts